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電阻類(lèi)測(cè)量

阻抗分析儀 LCR測(cè)試儀微電阻計(jì) 高阻計(jì)

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E4980A系列LCR測(cè)試儀Keysight是德

更新時(shí)間：2025-11-11

型號(hào)：

瀏覽量：2884

E4980A系列LCR測(cè)試儀Keysight是德的產(chǎn)品性能：是德科技產(chǎn)品可提供同類(lèi)產(chǎn)品中更出色的精度和可重復(fù)性，以及超快的測(cè)量速度。全面的解決方案：是德科技的阻抗分析儀產(chǎn)品系列可在從 5 Hz 到 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)執(zhí)行測(cè)量，使您能在十分廣闊的范圍內(nèi)根據(jù)測(cè)量需求做出更好的選擇。
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日置LCR表IM3536

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：

瀏覽量：2409

日置LCR表IM3536 DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率，測(cè)量時(shí)間：最快1ms，1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量，可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
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日置LCR表IM3523

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：

瀏覽量：2678

日置LCR表IM3523應(yīng)用于生產(chǎn)線(xiàn)和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇，基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
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同惠TH2826 高頻LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：

瀏覽量：2463

同惠TH2826 高頻LCR數(shù)字電橋是符合 LXI 標(biāo)準(zhǔn)的新一代阻抗測(cè)試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿(mǎn)足元件與材料的測(cè)量要求，可測(cè)量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測(cè)量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析。
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同惠TH2829C 自動(dòng)元件分析儀

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：

瀏覽量：2219

同惠TH2829C 自動(dòng)元件分析儀應(yīng)用高速處理器和新的軟件系統(tǒng)，使其擁有更高的測(cè)試速度、更全面的分析功能和友好的人機(jī)交互體驗(yàn)。精心設(shè)計(jì)的測(cè)量電路和優(yōu)化的算法，進(jìn)一步提升了低D值電容和高Q值電感的測(cè)試穩(wěn)定性。儀器提供的10V交流測(cè)試電平、10V/100mA偏置電源和獨(dú)立的10V/50mA DC電源，使本儀器可更方便地應(yīng)用于各種無(wú)源/有源器件的測(cè)試。
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同惠TH2840系列精密LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：

瀏覽量：2479

同惠TH2840系列精密LCR數(shù)字電橋高穩(wěn)定性和一致性：14個(gè)量程配置；高功率：信號(hào)電平：20VAC/100mAAC；內(nèi)置直流偏置：±40VDC/100mADC；內(nèi)置電流源：±2A； DCR電平：20VDC/100mADC；高速度：測(cè)試速度高達(dá)0.56ms（1800次/秒）；高分辨：10.1英寸，分辨率1280*800，電容式觸摸屏；點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描三種測(cè)試方式
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LCR-8000G系列LCR-8000G系列——GWinstek固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-11-12

型號(hào)：LCR-8000G系列

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LCR-8000G系列——GWinstek固緯LCR測(cè)試儀包含10MHz/5MHz/1MHz量測(cè)頻率機(jī)型，具有精確、多功能和高分辨率的特點(diǎn)，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能。多步驟測(cè)試功能可以在屏幕上進(jìn)行帶有Pass/Fail判定提示的定制測(cè)量序列編程。每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟，每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制。多步驟操作下，原本繁瑣無(wú)趣的工作只需要按一下按鈕，就可以按步驟自動(dòng)的執(zhí)行。
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E4980AL是德LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-11-11

型號(hào)：

瀏覽量：3240

蘇州計(jì)然之測(cè)提供E4980AL是德LCR測(cè)試儀 keysight為基礎(chǔ)型 LCR 表樹(shù)立了，實(shí)現(xiàn)了測(cè)量精度、速度與通用性的理想結(jié)合，適用于各種元件測(cè)量。包括多種頻率升級(jí)選件，確保良好的投資回報(bào)率和資產(chǎn)利用率。
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